Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount device prior to reliability testing
CURRENCY
FREE Shipping
Number of Standard:
CSN EN 60749-30
Category:
358799
Pages:
36
Released:
01.08.2005
Catalog number:
73890
DESCRIPTION
CSN EN 60749-30
CSN EN 60749-30 Tato část IEC 60749 popisuje standardní postupy pro stanovení aklimatizace před zkouškou spolehlivosti pro nehermetické povrchově montované součástky (SMD). Zkušební metoda popisuje postup aklimatizace pro nehermetické součástky v pevné fázi pro SMD, který reprezentuje typické operace vícenásobného pájení přetavením. Tyto SMD by měly být podrobeny přiměřené posloupnosti aklimatizace popsané v této normě předtím, než budou podrobeny specifickému zkoušení spolehlivosti v laboratoři výrobce (monitorování kvalifikační a/nebo spolehlivostní) z důvodu vyhodnocení dlouhodobé spolehlivosti ovlivněné namáháním při pájení. Zaváděná IEC 60749-30 představuje celkem 28 stran anglického a francouzského textu. Original English text of CSN EN Standard. The price of the Standard included all amendments and correcturs.