PRICES include / exclude VAT
Homepage>CSN Standards>35 ELECTRICAL ENGINEERING>3587 Semiconductor elements>CSN EN 60749-30 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount device prior to reliability testing
Sponsored link
Not available online - contact us!
Released: 01.08.2005
CSN EN 60749-30 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount device prior to reliability testing

CSN EN 60749-30

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount device prior to reliability testing

CURRENCY
76.67 USD
FREE Shipping
Number of Standard:CSN EN 60749-30
Category:358799
Pages:36
Released:01.08.2005
Catalog number:73890
DESCRIPTION

CSN EN 60749-30

CSN EN 60749-30 Tato část IEC 60749 popisuje standardní postupy pro stanovení aklimatizace před zkouškou spolehlivosti pro nehermetické povrchově montované součástky (SMD). Zkušební metoda popisuje postup aklimatizace pro nehermetické součástky v pevné fázi pro SMD, který reprezentuje typické operace vícenásobného pájení přetavením. Tyto SMD by měly být podrobeny přiměřené posloupnosti aklimatizace popsané v této normě předtím, než budou podrobeny specifickému zkoušení spolehlivosti v laboratoři výrobce (monitorování kvalifikační a/nebo spolehlivostní) z důvodu vyhodnocení dlouhodobé spolehlivosti ovlivněné namáháním při pájení. Zaváděná IEC 60749-30 představuje celkem 28 stran anglického a francouzského textu.
Original English text of CSN EN Standard.
The price of the Standard included all amendments and correcturs.