Log inSign up
LANGUAGE en
Menu
STOREABOUT US Help centerContactsDelivery chargesNews
SEARCH
0
Total price
0 USD
PRICES include / exclude VAT
Homepage>CSN Standards>35 ELECTRICAL ENGINEERING>3587 Semiconductor elements>CSN EN 60749-37 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method using an accelerometer
Sponsored link
Released: 01.09.2008
CSN EN 60749-37 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method using an accelerometer

CSN EN 60749-37

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method using an accelerometer

Format
Availability
Price and currency
English Hardcopy
In stock
76.67 USD
FREE Shipping
Number of Standard:CSN EN 60749-37
Category:358799
Pages:28
Released:01.09.2008
Catalog number:81899
DESCRIPTION

CSN EN 60749-37

CSN EN 60749-37 Část 37 souboru norem IEC 60749 popisuje zkušební metodu pro hodnocení a porovnání chování povrchově montovaných elektronických součástek pro ruční elektronické výrobky při působení zrychleného zkušebního prostředí, kdy nadměrný ohyb desky s plošnými spoji vyvolá poruchu výrobku. Popsaná metoda používá měřič zrychlení pro sledování mechanického úderu, který odpovídá namáhání součástky na osazené desce Zkouška je vhodná pro součástky s vývody uspořádanými do matice, nebo pouze po obvodu.
Original English text of CSN EN Standard.
The price of the Standard included all amendments and correcturs.
Print