Log inSign up
LANGUAGE en
Menu
STOREABOUT US Help centerContactsDelivery chargesNews
SEARCH
0
Total price
0 USD
PRICES include / exclude VAT
Homepage>CSN Standards>35 ELECTRICAL ENGINEERING>3587 Semiconductor elements>CSN EN 60749-5 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test
Sponsored link
Not available online - contact us!
Released: 01.11.2003
CSN EN 60749-5 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test

CSN EN 60749-5

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test

CURRENCY
57.78 USD
FREE Shipping
Number of Standard:CSN EN 60749-5
Category:358799
Pages:20
Released:01.11.2003
Catalog number:68825
DESCRIPTION

CSN EN 60749-5

CSN EN 60749-5 Tato část normy IEC 60749 stanoví zkoušku životnosti konstantní teplotou a vlhkostí při elektrické polarizaci za účelem vyhodnocení spolehlivosti nehermeticky zapouzdřených pevných součástek ve vlhkém prostředí. Tato zkouška je považována za destruktivní.
Original English text of CSN EN Standard.
The price of the Standard included all amendments and correcturs.
Print