Don't have a credit card? Never mind we support BANK TRANSFER .

PRICES include / exclude VAT
Homepage>CSN Standards>35 ELECTRICAL ENGINEERING>3584 Piezoelectric components and ferrite cores>CSN EN 62276 ed. 2 - Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications - Specifications and measuring methods
Not available online - contact us!
Released: 01.07.2013
CSN EN 62276 ed. 2 - Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications - Specifications and measuring methods

CSN EN 62276 ed. 2

Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications - Specifications and measuring methods

CURRENCY
108.24 USD
FREE Shipping
Number of Standard:CSN EN 62276 ed. 2
Category:358417
Pages:60
Released:01.07.2013
Catalog number:93221
DESCRIPTION

CSN EN 62276 ed. 2

CSN EN 62276 Přejímaná norma se týká výroby orientovaných monokrystalických desek ze syntetického křemene, lithium niobátu (LN), lithium tantalátu (LT), lithium tetraborátu (LBO) a lanthan gallium silikátu (LGS). Tyto monokrystalické desky se používají jako substráty při výrobě rezonátorů a filtrů s povrchovou akustickou vlnou (PAV). Norma stanovuje specifikaci požadavků na materiál a na desky, které jsou z něho vyrobeny. Dále jsou uvedeny metody zkoušení jednotlivých parametrů monokrystalických desek, včetně geometrie a defektů povrchu, inkluzí, mřížkové konstanty, krystalové orientace a další. Jsou rovněž uvedeny metody vizuální kontroly, identifikace, značení, balení a dodací podmínky pro tyto desky. V závěru normy jsou v normativní příloze uvedeny definiční vztahy pro Eulerovy úhly, které určují krystalovou orientaci desek. Pro informaci jsou potom v dalších přílohách stručně popsány metody pěstování syntetických krystalů a standardní technologický postup výroby desek pro součástky s PAV.
Original English text of CSN EN Standard.
The price of the Standard included all amendments and correcturs.