PRICES include / exclude VAT
Sponsored link
in stockReleased: 2012-06
DIN EN 62047-12
Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 12: Verfahren zur Prüfung der Biege-Ermüdungsfestigkeit von Dünnschichtwerkstoffen unter Verwendung der Resonanzschwingungen bei MEMS-Strukturen (IEC 62047-12:2011); Deutsche Fassung EN 62047-12:2011
Format
Availability
Price and currency
German PDF
Immediate download
131.51 USD
German Hardcopy
In stock
131.51 USD
| Status: | Standard |
| Released: | 2012-06 |
| Standard number: | DIN EN 62047-12 |
| Language: | German |
| Name: | Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 12: Verfahren zur Prüfung der Biege-Ermüdungsfestigkeit von Dünnschichtwerkstoffen unter Verwendung der Resonanzschwingungen bei MEMS-Strukturen (IEC 62047-12:2011); Deutsche Fassung EN 62047-12:2011 |
| Pages: | 31 |
DESCRIPTION