Dear customers, all orders for hardcopy versions will be sent on 6th January 2026, we wish you a Merry Christmas and a Happy New Year

Log inSign up
LANGUAGE en
Menu
STOREHelp centerContactsDelivery chargesABOUT US News
SEARCH
0
Total price
0 EUR
PRICES include / exclude VAT
>CSN Standards>35 ELECTRICAL ENGINEERING>3587 Semiconductor elements>CSN EN 60749-26 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM)
Not available online - contact us!
Released: 01.03.2007
CSN EN 60749-26 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM)

CSN EN 60749-26

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM)

CURRENCY
69 EUR
FREE Shipping
Number of Standard:CSN EN 60749-26
Category:358799
Pages:36
Released:01.03.2007
Catalog number:78057
DESCRIPTION

CSN EN 60749-26

CSN EN 60749-26 Tato část souboru norem IEC 60749 stanoví normalizovaný zkušební postup pro zkoušení a klasifikaci polovodičových součástek podle jejich citlivosti k poškození nebo degradaci při vystavení elektrostatickému výboji (ESD) podle modelu lidského těla (HBM). Cílem je poskytnout spolehlivé a reprodukovatelné výsledky zkoušek ESD, které by umožnily přesnou klasifikaci. Zaváděná IEC 60749-26 představuje celkem 27 stran anglického a francouzského textu.
Original English text of CSN EN Standard.
The price of the Standard included all amendments and correcturs.
Print