PRICES include / exclude VAT
download between 0-24 hoursReleased: 2012-09-25
IEC 60749-27:2006/AMD1:2012
Amendment 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)
Amendement 1 - Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 27: Essai de sensibilité aux décharges électrostatiques (DES) - Modèle de machine (MM)
Format
Availability
Price and currency
English/French - Bilingual PDF
Immediate download
10.80 EUR
English/French - Bilingual Hardcopy
in stock
10.80 EUR
| Standard number: | IEC 60749-27:2006/AMD1:2012 |
| Released: | 2012-09-25 |
| Edition: | 2 |
| ICS: | 31.080.01 |
| Pages (English/French - Bilingual): | 5 |
| ISBN (English/French - Bilingual): | 9782832203415 |
DESCRIPTION