PRICES include / exclude VAT
Homepage>CSN Standards>35 ELECTRICAL ENGINEERING>3587 Semiconductor elements>CSN EN 60749-18 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose)
Sponsored link
Not available online - contact us!
Released: 01.08.2003
CSN EN 60749-18 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose)

CSN EN 60749-18

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose)

CURRENCY
76.67 USD
FREE Shipping
Number of Standard:CSN EN 60749-18
Category:358799
Pages:32
Released:01.08.2003
Catalog number:68117
DESCRIPTION

CSN EN 60749-18

CSN EN 60749-18 Tato část normy IEC 60749 stanoví zkušební postup na definování požadavků pro zkoušení zapouzdřených polovodičových integrovaných obvodů a diskrétních polovodičových součástek na účinky ionizujícího záření (celkovou dávkou) ze zdroje gama paprsku kobaltu-60 (60Co). Tato norma uvádí zrychlenou zkoušku žíháním k odhadnutí účinků intenzity malé dávky ionizujícího záření na součástky. Tato zkouška žíháním je důležitá kvůli intenzitě malé dávky nebo určitým dalším aplikacím, při nichž mohou součástky dávat najevo časově závislé účinky. Tato norma je určena pouze pro ustálená záření a není vhodná pro pulzní typy záření. Je určena pro vojenské a kosmické účely. Tato norma může vytvářet úplné degradace elektrických vlastností ozařovaných součástek a proto je tato zkouška považována za destruktivní.
Original English text of CSN EN Standard.
The price of the Standard included all amendments and correcturs.