PRICES include / exclude VAT
>CSN Standards>35 ELECTRICAL ENGINEERING>3587 Semiconductor elements>CSN EN 60749-2 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure
Released: 01.04.2003
CSN EN 60749-2 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure

CSN EN 60749-2

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure

Format
Availability
Price and currency
English Hardcopy
In stock
42.00 EUR
FREE Shipping
Number of Standard:CSN EN 60749-2
Category:358799
Pages:4
Released:01.04.2003
Catalog number:66854
DESCRIPTION

CSN EN 60749-2

CSN EN 60749-2 Tato část normy IEC 60749 popisuje zkoušení nízkého tlaku vzduchu na polovodičových součástkách. Zkouška je určena především ke stanovení způsobilosti částí a materiálů součástek vyhnout se poruchám průrazem napětí, způsobeným snížením dielektrické pevnosti vzduchu a jiných dielektrických materiálů při snížených tlacích. Tato zkouška je vhodná pouze pro součástky u nichž pracovní napětí přesahuje 1 000 V. Tato zkouška je vhodná pro všechny polovodičové součástky, za předpokladu, že jejich pouzdra patří mezi typy s dutinou. Zkouška je určena pouze pro součástky používané pro vojenské a kosmické účely. Obecně je tato zkouška nízkým tlakem vzduchu v souladu s IEC 60068-2-13, ale vzhledem ke specifickým požadavkům polovodičů, platí články této normy.
Original English text of CSN EN Standard.
The price of the Standard included all amendments and correcturs.