Log inSign up
LANGUAGE en
Menu
STOREE-ReadingHelp centerContactsDelivery chargesABOUT US News
SEARCH
0
Total price
0 USD
PRICES include / exclude VAT
Homepage>CSN Standards>35 ELECTRICAL ENGINEERING>3587 Semiconductor elements>CSN EN 60749-27 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)
Sponsored link
Released: 01.03.2007
CSN EN 60749-27 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)

CSN EN 60749-27

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)

Format
Availability
Price and currency
English Hardcopy
In stock
76.67 USD
FREE Shipping
Number of Standard:CSN EN 60749-27
Category:358799
Pages:32
Released:01.03.2007
Catalog number:78055
DESCRIPTION

CSN EN 60749-27

CSN EN 60749-27 Tato část souboru norem IEC 60749 stanoví normalizovaný zkušební postup pro zkoušení a klasifikaci polovodičových součástek podle jejich citlivosti k poškození nebo degradaci při vystavení elektrostatickému výboji (ESD) podle strojového modelu (MM). Může být použita jako alternativní zkušební metoda ke zkušební metodě podle modelu lidského těla. Cílem je poskytnout spolehlivé a reprodukovatelné výsledky zkoušek ESD, které by umožnily přesnou klasifikaci. Zaváděná IEC 60749-27 představuje celkem 25 stran anglického a francouzského textu.
Original English text of CSN EN Standard.
The price of the Standard included all amendments and correcturs.
Print