Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications - Specifications and measuring methods
Format
Availability
Price and currency
English Hardcopy
In stock
84.00 EUR
FREE Shipping
Number of Standard:
CSN EN 62276 ed. 3
Category:
358417
Pages:
48
Released:
01.06.2017
Catalog number:
502616
DESCRIPTION
CSN EN 62276 ed. 3
CSN EN 62276 ed. 3 Tato norma se týká výroby orientovaných monokrystalických desek ze syntetického křemene, lithium niobátu (LN), lithium tantalátu (LT), lithium tetraborátu (LBO) a lanthan gallium silikátu (LGS). Tyto monokrystalické desky se používají jako substráty při výrobě rezonátorů a filtrů s povrchovou akustickou vlnou (PAV). Norma stanovuje specifikaci požadavků na materiál a na desky, které jsou z něho vyrobeny. Dále jsou uvedeny metody zkoušení jednotlivých parametrů monokrystalických desek, včetně geometrie a defektů povrchu, inkluzí, mřížkové konstanty, krystalové orientace a další. Jsou rovněž uvedeny metody vizuální kontroly, identifikace, značení, balení a dodací podmínky pro tyto desky. Original English text of CSN EN Standard. The price of the Standard included all amendments and correcturs.