PRICES include / exclude VAT
Homepage>CSN Standards>35 ELECTRICAL ENGINEERING>3584 Piezoelectric components and ferrite cores>CSN EN 62276 ed. 3 - Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications - Specifications and measuring methods
Sponsored link
Released: 01.06.2017
CSN EN 62276 ed. 3 - Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications - Specifications and measuring methods

CSN EN 62276 ed. 3

Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications - Specifications and measuring methods

Format
Availability
Price and currency
English Hardcopy
In stock
93.33 USD
FREE Shipping
Number of Standard:CSN EN 62276 ed. 3
Category:358417
Pages:48
Released:01.06.2017
Catalog number:502616
DESCRIPTION

CSN EN 62276 ed. 3

CSN EN 62276 ed. 3 Tato norma se týká výroby orientovaných monokrystalických desek ze syntetického křemene, lithium niobátu (LN), lithium tantalátu (LT), lithium tetraborátu (LBO) a lanthan gallium silikátu (LGS). Tyto monokrystalické desky se používají jako substráty při výrobě rezonátorů a filtrů s povrchovou akustickou vlnou (PAV). Norma stanovuje specifikaci požadavků na materiál a na desky, které jsou z něho vyrobeny. Dále jsou uvedeny metody zkoušení jednotlivých parametrů monokrystalických desek, včetně geometrie a defektů povrchu, inkluzí, mřížkové konstanty, krystalové orientace a další. Jsou rovněž uvedeny metody vizuální kontroly, identifikace, značení, balení a dodací podmínky pro tyto desky.
Original English text of CSN EN Standard.
The price of the Standard included all amendments and correcturs.