Using Artificial Intelligence (AI) on standards and related intellectual property is strongly prohibited. In the event of a violation, your access to the standards will be revoked.

Log inSign up
LANGUAGE en
Menu
STOREMembershipHelp centerContactsDelivery chargesABOUT US News
SEARCH
0
Total price
0 USD
PRICES include / exclude VAT
Main page>DIN Standards>DIN EN 62047-21 Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 21: Prüfverfahren zur Querkontraktionszahl von Dünnschichtwerkstoffen der Mikrosystemtechnik (IEC 62047-21:2014); Deutsche Fassung EN 62047-21:2014
in stockReleased: 2015-04
DIN EN 62047-21 Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 21: Prüfverfahren zur Querkontraktionszahl von Dünnschichtwerkstoffen der Mikrosystemtechnik (IEC 62047-21:2014); Deutsche Fassung EN 62047-21:2014

DIN EN 62047-21

Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 21: Prüfverfahren zur Querkontraktionszahl von Dünnschichtwerkstoffen der Mikrosystemtechnik (IEC 62047-21:2014); Deutsche Fassung EN 62047-21:2014

Format
Availability
Price and currency
German PDF
Immediate download
Printable
122.06 USD
German Hardcopy
In stock
122.06 USD
Status:Standard
Released:2015-04
Standard number:DIN EN 62047-21
Language:German
Name:Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 21: Prüfverfahren zur Querkontraktionszahl von Dünnschichtwerkstoffen der Mikrosystemtechnik (IEC 62047-21:2014); Deutsche Fassung EN 62047-21:2014
Pages:16
DESCRIPTION

DIN EN 62047-21

Print