31.200 Integrated circuits. Microelectronics
CURRENCY
PRICES include / exclude VAT
Price include VAT will be charged for customers of European Union – non VAT payers.
Price exclude VAT will be charged for customers of European Union – VAT payers (with valid EU VAT number) and for customers outside of European Union.
Price exclude VAT will be charged for customers of European Union – VAT payers (with valid EU VAT number) and for customers outside of European Union.
in stock
Released: 2001-04-01
Integrated circuits - Memory devices pin configurations. (Endorsed by AENOR in April of 2001.)
Circuitos integrados - Configuraciones de los terminales de memoria. (Ratificada por AENOR en abril de 2001)
in stock
Released: 2002-11-01
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz -- Part 1: General conditions and definitions (Endorsed by AENOR in November of 2002.)
Circuitos integrados. Mediciones de las emisiones electromagnéticas de 150 kHz a 1 GHz. Parte 1: Definiciones y condiciones generales. (Ratificada por AENOR en noviembre de 2002)
in stock
Released: 2002-11-01
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kKHz to 1 GHz -- Part 4: Measurement of conducted emissions - 1 ohm/150 ohm direct coupling method (Endorsed by AENOR in November of 2002.)
Circuitos integrados. Mediciones de las emisiones electromagnéticas de 150 kHz a 1 GHz. Parte 4: Mediciones de emisiones conducidas. Método de acoplamiento directo 1 ohm/150 ohm. (Ratificada por AENOR en noviembre de 2002)
in stock
Released: 2006-04-01
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz -- Part 4: Measurement of conducted emissions - 1 ohm/150 ohm direct coupling method (Endorsed by AENOR in April of 2006.)
Circuitos integrados. Mediciones de las emisiones electromagnéticas de 150 kHz a 1 GHz. Parte 4: Mediciones de emisiones conducidas. Método de acoplamiento directo 1 ohm/150 ohm. (Ratificada por AENOR en abril de 2006.)
in stock
Released: 2003-07-01
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz -- Part 5: Measurement of conducted emissions - Workbench Faraday Cage method (Endorsed by AENOR in July of 2003.)
Circuitos integrados. Medición de las emisiones electromagnéticas desde 150 kHz a 1 GHz. Parte 5: Medición de las emisiones conducidas por el método de la jaula de Faraday. (Ratificada por AENOR en julio de 2003)
in stock
Released: 2002-11-01
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz -- Part 6: Measurement of conducted emissions - Magnetic probe method (Endorsed by AENOR in November of 2002.)
Circuitos integrados. Mediciones de las emisiones electromagnéticas de 150 kHz a 1 GHz. Parte 6: Mediciones de emisiones conducidas. Método de sonda magnética. (Ratificada por AENOR en noviembre de 2002)
in stock
Released: 2008-09-01
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz -- Part 6: Measurement of conducted emissions - Magnetic probe method (Endorsed by AENOR in September of 2008.)
Circuitos integrados. Mediciones de las emisiones electromagnéticas de 150 kHz a 1 GHz. Parte 6: Mediciones de emisiones conducidas. Método de sonda magnética. (Ratificada por AENOR en septiembre de 2008.)
in stock
Released: 2012-01-01
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 8: Measurement of radiated emissions - IC stripline method (Endorsed by AENOR in January of 2012.)
Circuitos integrados. Mediciones de las emisiones electromagnéticas de 150 kHz a 1 GHz. Parte 8: Medición de las emisiones radiadas. Método IC de líneas TEM de placas. (Ratificada por AENOR en enero de 2012.)
in stock
Released: 2017-08-01
Product package labels for electronic components using bar code and two- dimensional symbologies (Endorsed by Asociación Española de Normalización in August of 2017.)
Etiquetas de embalaje de productos para componentes electrónicos, usando código de barras y simbología bidimiensional. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en agosto de 2017.)
in stock
Released: 2016-04-01
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 1: General conditions and definitions (Endorsed by AENOR in April of 2016.)
Circuitos integrados. Medición de la inmunidad electromagnética. Parte 1: Definiciones y condiciones generales (Ratificada por AENOR en abril de 2016.)
in stock
Released: 2011-07-01
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity -- Part 2: Measurement of radiated immunity - TEM cell and wideband TEM cell method (Endorsed by AENOR in July of 2011.)
Circuitos integrados. Medida de la inmunidad electromagnética. Parte 2: Medida de la inmunidad radiada. Método de la celda TEM y de la celda TEM en banda ancha (Ratificada por AENOR en julio de 2011.)
in stock
Released: 2008-02-01
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity, 150 kHz to 1 GHz -- Part 3: Bulk current injection (BCI) method (IEC 62132-3:2007). (Endorsed by AENOR in February of 2008.)
Circuitos integrados. Medida de la inmunidad electromagnética desde 150 kHz a 1 GHz. Parte 3: Método de inyección de volumen de corriente (BCI). (IEC 62132-3:2007). (Ratificada por AENOR en febrero de 2008.)