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>UNE standards>UNE EN IEC 60749-21:2026 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 21: Solderability (Endorsed by Asociación Española de Normalización in March of 2026.)
in stockReleased: 2026-03-01
UNE EN IEC 60749-21:2026 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 21: Solderability (Endorsed by Asociación Española de Normalización in March of 2026.)

UNE EN IEC 60749-21:2026

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 21: Solderability (Endorsed by Asociación Española de Normalización in March of 2026.)

Dispositivos semiconductores. Ensayos mecánicos y climáticos. Parte 21: Soldabilidad. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en marzo de 2026.)

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Standard number:UNE EN IEC 60749-21:2026
Pages:29
Released:2026-03-01
Status:Standard
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This standard UNE EN IEC 60749-21:2026 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 21: Solderability (Endorsed by Asociación Española de Normalización in March of 2026.) is classified in these ICS categories:

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