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>UNE standards>UNE EN IEC 60749-24:2026 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance - Unbiased hast (Endorsed by Asociación Española de Normalización in February of 2026.)
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UNE EN IEC 60749-24:2026 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance - Unbiased hast (Endorsed by Asociación Española de Normalización in February of 2026.)

UNE EN IEC 60749-24:2026

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance - Unbiased hast (Endorsed by Asociación Española de Normalización in February of 2026.)

Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 24: Resistencia a la humedad acelerada. HAST no polarizado. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en febrero de 2026.)

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Standard number:UNE EN IEC 60749-24:2026
Pages:18
Released:2026-02-01
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This standard UNE EN IEC 60749-24:2026 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance - Unbiased hast (Endorsed by Asociación Española de Normalización in February of 2026.) is classified in these ICS categories:

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