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Homepage>UNE standards>UNE EN IEC 60749-34-1:2025 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34-1: Power cycling test for power semiconductor module (Endorsed by Asociación Española de Normalización in September of 2025.)
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UNE EN IEC 60749-34-1:2025 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34-1: Power cycling test for power semiconductor module (Endorsed by Asociación Española de Normalización in September of 2025.)

UNE EN IEC 60749-34-1:2025

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34-1: Power cycling test for power semiconductor module (Endorsed by Asociación Española de Normalización in September of 2025.)

Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 34-1: Ensayo de ciclos de potencia para módulos semiconductores de potencia. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en septiembre de 2025.)

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Standard number:UNE EN IEC 60749-34-1:2025
Pages:37
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This standard UNE EN IEC 60749-34-1:2025 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34-1: Power cycling test for power semiconductor module (Endorsed by Asociación Española de Normalización in September of 2025.) is classified in these ICS categories:

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