Log inSign up
LANGUAGE en
Menu
STOREE-ReadingHelp centerContactsDelivery chargesABOUT US News
SEARCH
0
Total price
0 USD
PRICES include / exclude VAT
Homepage>CSN Standards>35 ELECTRICAL ENGINEERING>3587 Semiconductor elements>CSN EN 60749-1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General
Sponsored link
Released: 01.12.2003
CSN EN 60749-1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General

CSN EN 60749-1

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General

Format
Availability
Price and currency
English Hardcopy
In stock
67.78 USD
FREE Shipping
Number of Standard:CSN EN 60749-1
Category:358799
Pages:24
Released:01.12.2003
Catalog number:68967
DESCRIPTION

CSN EN 60749-1

CSN EN 60749-1 Tato část normy IEC 60749 je vhodná pro polovodičové součástky (diskrétní součástky a integrované obvody) a zavádí ustanovení společná pro všechny další části řady. V případě rozporu mezi touto normou a příslušnou dílčí specifikací, platí ta později vydaná.
Original English text of CSN EN Standard.
The price of the Standard included all amendments and correcturs.
Print