Log inSign up
LANGUAGE en
Menu
STOREHelp centerContactsDelivery chargesABOUT US News
SEARCH
0
Total price
0 EUR
PRICES include / exclude VAT
>CSN Standards>35 ELECTRICAL ENGINEERING>3587 Semiconductor elements>CSN EN 60749-16 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 16: Particle impact noise detection (PIND)
Released: 01.11.2003
CSN EN 60749-16 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 16: Particle impact noise detection (PIND)

CSN EN 60749-16

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 16: Particle impact noise detection (PIND)

Format
Availability
Price and currency
English Hardcopy
In stock
52.00 EUR
FREE Shipping
Number of Standard:CSN EN 60749-16
Category:358799
Pages:20
Released:01.11.2003
Catalog number:68826
DESCRIPTION

CSN EN 60749-16

CSN EN 60749-16 Účelem této části normy IEC 60749 je zjistit přítomnost volných částic uvnitř dutiny součástky, jako např. odštěpků keramiky, kousků spojovacího drátu, nebo kuliček pájky (perliček). Zkouška zjišťování šumu způsobeného nárazem částic je považována za nedestruktivní.
Original English text of CSN EN Standard.
The price of the Standard included all amendments and correcturs.
Print