Log inSign up
LANGUAGE en
Menu
STOREABOUT US Help centerContactsDelivery chargesNews
SEARCH
0
Total price
0 USD
PRICES include / exclude VAT
Homepage>CSN Standards>35 ELECTRICAL ENGINEERING>3587 Semiconductor elements>CSN EN 60749-16 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 16: Particle impact noise detection (PIND)
Sponsored link
Released: 01.11.2003
CSN EN 60749-16 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 16: Particle impact noise detection (PIND)

CSN EN 60749-16

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 16: Particle impact noise detection (PIND)

Format
Availability
Price and currency
English Hardcopy
In stock
57.78 USD
FREE Shipping
Number of Standard:CSN EN 60749-16
Category:358799
Pages:20
Released:01.11.2003
Catalog number:68826
DESCRIPTION

CSN EN 60749-16

CSN EN 60749-16 Účelem této části normy IEC 60749 je zjistit přítomnost volných částic uvnitř dutiny součástky, jako např. odštěpků keramiky, kousků spojovacího drátu, nebo kuliček pájky (perliček). Zkouška zjišťování šumu způsobeného nárazem částic je považována za nedestruktivní.
Original English text of CSN EN Standard.
The price of the Standard included all amendments and correcturs.
Print