PRICES include / exclude VAT
Homepage>CSN Standards>35 ELECTRICAL ENGINEERING>3587 Semiconductor elements>CSN EN 60749-24 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance - Unbiased HAST
Sponsored link
Released: 01.12.2004
CSN EN 60749-24 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance - Unbiased HAST

CSN EN 60749-24

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance - Unbiased HAST

Format
Availability
Price and currency
English Hardcopy
In stock
57.78 USD
FREE Shipping
Number of Standard:CSN EN 60749-24
Category:358799
Pages:16
Released:01.12.2004
Catalog number:71679
DESCRIPTION

CSN EN 60749-24

CSN EN 60749-24 Zkouška velmi zrychleným namáháním (HAST) bez předpětí se provádí pro účely vypočítání spolehlivosti nehermeticky zapouzdřených pevných součástek ve vlhkém prostředí. Je to velmi zrychlená zkouška, která využívá teploty a vlhkosti v nekondenzovaném stavu ke zrychlení proniknutí vlhkosti přes vnější ochranný materiál (pouzdřící nebo těsnící), nebo podél rozhraní mezi vnějším ochranným materiálem a kovovými vodiči, které jím procházejí. Předpětí se při této zkoušce nepoužívá, aby se zajistilo, že mohou být objeveny mechanizmy poruch, které jsou zátěží zastíněny (např. galvanická koroze). Tato zkouška se používá k identifikaci mechanizmu poruch uvnitř pouzdra a je destruktivní. POZNÁMKA - Tato zkouška je úplným přepisem zkoušky obsažené v článku 4C, kapitoly 3, IEC 60749 (1996) (bez předpětí).
Original English text of CSN EN Standard.
The price of the Standard included all amendments and correcturs.