PRICES include / exclude VAT
Homepage>CSN Standards>35 ELECTRICAL ENGINEERING>3587 Semiconductor elements>CSN EN 60749-25 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 25: Temperature cycling
Released: 01.06.2004
CSN EN 60749-25 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 25: Temperature cycling

CSN EN 60749-25

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 25: Temperature cycling

Format
Availability
Price and currency
English Hardcopy
In stock
76.67 USD
FREE Shipping
Number of Standard:CSN EN 60749-25
Category:358799
Pages:32
Released:01.06.2004
Catalog number:70530
DESCRIPTION

CSN EN 60749-25

CSN EN 60749-25 Tato část IEC 60749 stanovuje zkušební postup k určování způsobilosti polovodičových součástek a součástí a/nebo montážních desek vydržet mechanické namáhání způsobené střídáním vysokých a nízkých teplotních extrémů. Trvalé změny elektrických a/nebo fyzikálních parametrů mohou být důsledkem těchto mechanických namáhání. Tato zkušební metoda je obecně v souladu s IEC 60068-2-14, ale vzhledem ke specifickým požadavkům polovodičů, platí články této normy. Tato zkušební metoda platí pro jedno, dvou a tříkomorové teplotní cykly a zahrnuje zkoušení součástí a pájecích spojů. Při jednokomorovém cyklu je dávka umístěna ve stabilní komoře a je zahřívána nebo ochlazována přiváděním horkého, okolního nebo studeného vzduchu do komory. Při dvoukomorovém cyklu je dávka umístěna na pohyblivé desce samovolně se pohybující mezi stabilními komorami, které jsou udržovány na stálých teplotách. Při tříkomorovém teplotním cyklu se dávka pohybuje mezi třemi komorami.
Original English text of CSN EN Standard.
The price of the Standard included all amendments and correcturs.