PRICES include / exclude VAT
Homepage>CSN Standards>35 ELECTRICAL ENGINEERING>3587 Semiconductor elements>CSN EN 60749-29 ed. 2 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test
Released: 01.12.2011
CSN EN 60749-29 ed. 2 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test

CSN EN 60749-29 ed. 2

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test

Format
Availability
Price and currency
English Hardcopy
In stock
76.67 USD
FREE Shipping
Number of Standard:CSN EN 60749-29 ed. 2
Category:358799
Pages:36
Released:01.12.2011
Catalog number:89811
DESCRIPTION

CSN EN 60749-29 ed. 2

CSN EN 60749-29 ed. 2 Tato norma zahrnuje I-zkoušku a přepěťovou zkoušku zavření pro integrované obvody. Tato zkouška je považována za destruktivní. Účelem této zkoušky je stanovit metodu, která určí zavření (Latch-up) integrovaných obvodů (IO) a definuje kriteria poruch zavření. Charakteristiky zavření jsou používány na stanovení spolehlivosti výrobku "zjištění bezporuchovosti" (NTF) a minimalizaci poruchy způsobené "elektrickým přepětím" (EOS) během zkoušky zavření. Tuto zkušební metodu je možno aplikovat pro CMOS součástky. Použitelnost pro ostatní technologie musí být stanovena. Klasifikace zkoušek zavření jako funkce teploty je definována v 3.1 a kriteria úrovně poruch jsou uvedena v 3.2.
Original English text of CSN EN Standard.
The price of the Standard included all amendments and correcturs.