Log inSign up
LANGUAGE en
Menu
STOREE-ReadingHelp centerContactsDelivery chargesABOUT US News
SEARCH
0
Total price
0 USD
PRICES include / exclude VAT
Homepage>CSN Standards>35 ELECTRICAL ENGINEERING>3587 Semiconductor elements>CSN EN 60749-3 ed. 2 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination
Sponsored link
Released: 01.10.2017
CSN EN 60749-3 ed. 2 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination

CSN EN 60749-3 ed. 2

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination

Format
Availability
Price and currency
English Hardcopy
In stock
57.78 USD
FREE Shipping
Number of Standard:CSN EN 60749-3 ed. 2
Category:358799
Pages:20
Released:01.10.2017
Catalog number:503484
DESCRIPTION

CSN EN 60749-3 ed. 2

CSN EN 60749-3 ed. 2 Účelem této normy je ověřit, zda jsou materiály, návrh, konstrukce, značení a provedení polovodičové součástky v souladu s příslušným dokumentem pro zadávání zakázek. Vnější vizuální prohlídka je nedestruktivní zkouška, která je aplikovatelná na všechny typy pouzder. Zkouška je užitečná pro kvalifikaci, sledování procesu nebo schválení výrobní dávky.
Original English text of CSN EN Standard.
The price of the Standard included all amendments and correcturs.
Print