Log inSign up
LANGUAGE en
Menu
STOREE-ReadingHelp centerContactsDelivery chargesABOUT US News
SEARCH
0
Total price
0 USD
PRICES include / exclude VAT
Homepage>CSN Standards>35 ELECTRICAL ENGINEERING>3587 Semiconductor elements>CSN EN 60749-31 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 31: Flammability of plastic-encapsulated devices (internally induced)
Sponsored link
Released: 01.12.2003
CSN EN 60749-31 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 31: Flammability of plastic-encapsulated devices (internally induced)

CSN EN 60749-31

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 31: Flammability of plastic-encapsulated devices (internally induced)

Format
Availability
Price and currency
English Hardcopy
In stock
57.78 USD
FREE Shipping
Number of Standard:CSN EN 60749-31
Category:358799
Pages:16
Released:01.12.2003
Catalog number:68971
DESCRIPTION

CSN EN 60749-31

CSN EN 60749-31 Tato část normy IEC 60749 je vhodná pro polovodičové součástky (diskrétní součástky a integrované obvody). Předmětem této části je určit zda se součástka vznítí během vnitřního zahřátí způsobeného přílišným přetížením. Tato zkouška je identická se zkouškou obsaženou v článku 1.1 kapitoly 4 IEC 60749 (1996), bez ohledu na změny k tomuto článku, doplnění názvů k článkům 2a 3 a přečíslování.
Original English text of CSN EN Standard.
The price of the Standard included all amendments and correcturs.
Print