PRICES include / exclude VAT
Homepage>CSN Standards>35 ELECTRICAL ENGINEERING>3587 Semiconductor elements>CSN EN 60749-32 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 32: Flammability of plastic-encapsulated devices (exterrnally induced)
Released: 01.12.2003
CSN EN 60749-32 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 32: Flammability of plastic-encapsulated devices (exterrnally induced)

CSN EN 60749-32

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 32: Flammability of plastic-encapsulated devices (exterrnally induced)

Format
Availability
Price and currency
English Hardcopy
In stock
57.78 USD
FREE Shipping
Number of Standard:CSN EN 60749-32
Category:358799
Pages:20
Released:01.12.2003
Catalog number:68972
DESCRIPTION

CSN EN 60749-32

CSN EN 60749-32 Tato část normy IEC 60749 je vhodná pro polovodičové součástky (diskrétní součástky a integrované obvody). Předmětem této části je určit zda se součástka vznítí během zahřátí zvenčí. Ke zkoušce je třeba jehlový plamen simulující účinek malých plamínků, které mohou vzniknout při porušení podmínek uvnitř zařízení obsahujícího součástku. Tato zkouška je identická se zkouškou obsaženou v článku 1.2 kapitoly 4 IEC 60749 (1996), bez ohledu na změny k tomuto článku, doplnění názvů k článkům 2a 3 a přečíslování.
Original English text of CSN EN Standard.
The price of the Standard included all amendments and correcturs.