PRICES include / exclude VAT
Homepage>CSN Standards>35 ELECTRICAL ENGINEERING>3587 Semiconductor elements>CSN EN 60749-33 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 33: Accelerated moisture resistance - Unbiased autoclave
Sponsored link
Released: 01.12.2004
CSN EN 60749-33 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 33: Accelerated moisture resistance - Unbiased autoclave

CSN EN 60749-33

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 33: Accelerated moisture resistance - Unbiased autoclave

Format
Availability
Price and currency
English Hardcopy
In stock
57.78 USD
FREE Shipping
Number of Standard:CSN EN 60749-33
Category:358799
Pages:16
Released:01.12.2004
Catalog number:71682
DESCRIPTION

CSN EN 60749-33

CSN EN 60749-33 Zkouška v autoklávu bez předpětí se provádí za účelem vyhodnocení odolnosti proti vlhkosti neporušených nehermeticky zapouzdřených součástek pevné fáze, využitím prostředí s kondenzovanou vlhkostí nebo s nasycenou párou. Je to velmi zrychlená zkouška, která využívá tlak, vlhkost a teplotu v podmínkách kondenzace, aby se zrychlilo pronikání vlhkosti přes vnější ochranné materiály (pouzdro nebo těsnění), nebo podél rozhraní mezi vnějším ochranným materiálem a kovovými vodiči procházejícími tímto materiálem. Tato zkouška se používá k identifikaci mechanizmů poruch uvnitř pouzdra a je destruktivní.
Original English text of CSN EN Standard.
The price of the Standard included all amendments and correcturs.