PRICES include / exclude VAT
Homepage>CSN Standards>35 ELECTRICAL ENGINEERING>3587 Semiconductor elements>CSN EN 60749-34 ed. 2 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34: Power cycling
Released: 01.09.2011
CSN EN 60749-34 ed. 2 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34: Power cycling

CSN EN 60749-34 ed. 2

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34: Power cycling

Format
Availability
Price and currency
English Hardcopy
In stock
67.78 USD
FREE Shipping
Number of Standard:CSN EN 60749-34 ed. 2
Category:358799
Pages:24
Released:01.09.2011
Catalog number:88988
DESCRIPTION

CSN EN 60749-34 ed. 2

CSN EN 60749-34 ed. 2 Tato norma popisuje zkušební metodu, která se používá pro stanovení odolnosti polovodičové součástky vůči tepelnému a mechanickému namáhání při cyklování. Tepelné namáhání je způsobeno vyzařováním tepla z polovodičového čipu a vnitřních spojení. Toto nastává, pokud jsou periodicky aplikovány budicí proudy tekoucí v propustném směru (zatěžovací proudy). Tyto proudy způsobují podstatné změny teploty. Účelem výkonové cyklické zkoušky je simulovat typické aplikace při používání ve výkonové elektronice a zkouška je doplňkem k životnosti při vysoké teplotě (viz. IEC 60749-23). Realizace této zkoušky nemusí vyvolávat stejné poruchové mechanismy jako teplotní cyklování vzduch-vzduch, anebo rychlou změnou teploty, kterou používá metoda použití lázně s dvěma kapalinami. Tato zkouška způsobí opotřebení a je považována za destruktivní. POZNÁMKA: Záměrem této specifikace není stanovit prognózy pro model životnosti.
Original English text of CSN EN Standard.
The price of the Standard included all amendments and correcturs.