Log inSign up
LANGUAGE en
Menu
STOREE-ReadingHelp centerContactsDelivery chargesABOUT US News
SEARCH
0
Total price
0 USD
PRICES include / exclude VAT
Homepage>CSN Standards>35 ELECTRICAL ENGINEERING>3587 Semiconductor elements>CSN EN 60749-35 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components
Sponsored link
Released: 01.05.2007
CSN EN 60749-35 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components

CSN EN 60749-35

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components

Format
Availability
Price and currency
English Hardcopy
In stock
102.22 USD
FREE Shipping
Number of Standard:CSN EN 60749-35
Category:358799
Pages:48
Released:01.05.2007
Catalog number:78450
DESCRIPTION

CSN EN 60749-35

CSN EN 60749-35 Tato část souboru norem IEC 60749 popisuje postupy pro provádění akustické mikroskopie na elektronických součástkách zapouzdřených do plastu. Poskytuje návod na používání akustické mikroskopie pro detekci anomálií (delaminace, praskliny, dutiny v zalévací hmotě atp.). Metoda je reprodukovatelná, nedestruktivní. Přejímaná EN 60749-35 představuje 2 strany anglického textu a 43 stran anglického a francouzského textu normy IEC.
Original English text of CSN EN Standard.
The price of the Standard included all amendments and correcturs.
Print