PRICES include / exclude VAT
Homepage>CSN Standards>35 ELECTRICAL ENGINEERING>3587 Semiconductor elements>CSN EN 60749-36 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 36: Acceleration, steady state
Sponsored link
Released: 01.12.2003
CSN EN 60749-36 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 36: Acceleration, steady state

CSN EN 60749-36

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 36: Acceleration, steady state

Format
Availability
Price and currency
English Hardcopy
In stock
57.78 USD
FREE Shipping
Number of Standard:CSN EN 60749-36
Category:358799
Pages:16
Released:01.12.2003
Catalog number:69113
DESCRIPTION

CSN EN 60749-36

CSN EN 60749-36 Tato část IEC 60749 používá zkoušku k určení vlivů stálého zrychlení na typy polovodičových součástek s dutinou. Je to zrychlená zkouška, navržená ke zjištění typů strukturálních a mechanických slabin, které jsou ne vždy zjistitelné zkouškou údery a vibracemi. Tato zkouška se může použít jako zkouška s vysokým namáháním (destruktivní), k určení mechanických mezí pouzdra, vnitřního pokovení a systému přívodů, připevnění čipu nebo podložky a dalších prvků mikroelektronické součástky. Když byly stanoveny meze vlastního namáhání, může se tato zkušební metoda využít jako nedestruktivní přímé stoprocentní třídění ke zjištění a vyřazení součástek, s nižší mechanickou pevností než je obvyklá, v kterémkoliv strukturálním prvku. Obecně je zkušební metoda stálým zrychlením v souladu s IEC 60068-2-7, ale vzhledem ke specifickým požadavkům polovodičů, platí články této normy.
Original English text of CSN EN Standard.
The price of the Standard included all amendments and correcturs.