PRICES include / exclude VAT
Homepage>CSN Standards>35 ELECTRICAL ENGINEERING>3587 Semiconductor elements>CSN EN 60749-42 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 42: Temperature and humidity storage
Sponsored link
Released: 01.04.2015
CSN EN 60749-42 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 42: Temperature and humidity storage

CSN EN 60749-42

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 42: Temperature and humidity storage

Format
Availability
Price and currency
English Hardcopy
In stock
57.78 USD
FREE Shipping
Number of Standard:CSN EN 60749-42
Category:358799
Pages:20
Released:01.04.2015
Catalog number:97100
DESCRIPTION

CSN EN 60749-42

CSN EN 60749-42 Tato norma určuje zkušební metodu na vyhodnocení odolnosti polovodičových součástek, které se provozují v prostředí vysoké teploty a vysoké vlhkosti. Tato zkušební metoda se používá na vyhodnocení odolnosti proti korozi kovových připojení na čipech polovodi-čových součástek, které se nachází v plastových a jiných pouzdrech. Používá se také jako prostředek vyhodno-cení zrychleného pronikání vlhkosti přes pasivační vrstvu a jako přípravná fáze pro různé druhy zkoušek.
Original English text of CSN EN Standard.
The price of the Standard included all amendments and correcturs.