PRICES include / exclude VAT
Homepage>CSN Standards>35 ELECTRICAL ENGINEERING>3587 Semiconductor elements>CSN EN 60749-44 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices
Sponsored link
Released: 01.02.2017
CSN EN 60749-44 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices

CSN EN 60749-44

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices

Format
Availability
Price and currency
English Hardcopy
In stock
76.67 USD
FREE Shipping
Number of Standard:CSN EN 60749-44
Category:358799
Pages:32
Released:01.02.2017
Catalog number:501673
DESCRIPTION

CSN EN 60749-44

CSN EN 60749-44 Tato norma stanovuje postup pro měření efektu samostatné události (SEE) pro integrované obvody s vysokou hustotou integrace, zahrnuje zachování dat pro součástky s pamětí, pokud jsou vystaveny atmosférickému neutronovému záření, které produkuje kosmické záření. U metody efektu samostatné události se měří citlivost, přičemž je součástka ozářena neutronovým svazkem o známém toku. Tato zkušební metoda je použitelná pro kterýkoliv typ integrovaného obvodu. POZNÁMKA 1: Polovodičové součástky, na které působí vysoké napěťové namáhání, mohou být vystaveny samostatné události zahrnující samostatný efekt vyhoření (SEB) a samostatný efekt prasknutí hradla (SEGR). Pro subjekt, který není uveden v tomto dokumentu prosím nahlédněte do IEC 62396-4 [2]. POZNÁMKA 2: Navíc působením neutronů o vysoké energii mohou některé součástky vykazovat měkkou chybu v důsledku tepelných neutronů s nízkou energií (<1 eV). Pro subjekt, který není uveden v tomto dokumentu prosím nahlédněte do IEC 62396-5 [3].
Original English text of CSN EN Standard.
The price of the Standard included all amendments and correcturs.