PRICES include / exclude VAT
Homepage>CSN Standards>35 ELECTRICAL ENGINEERING>3587 Semiconductor elements>CSN EN 60749-6 ed. 2 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature
Sponsored link
Released: 01.10.2017
CSN EN 60749-6 ed. 2 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature

CSN EN 60749-6 ed. 2

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature

Format
Availability
Price and currency
English Hardcopy
In stock
57.78 USD
FREE Shipping
Number of Standard:CSN EN 60749-6 ed. 2
Category:358799
Pages:16
Released:01.10.2017
Catalog number:503480
DESCRIPTION

CSN EN 60749-6 ed. 2

CSN EN 60749-6 ed. 2 Účelem této normy je zkoušet a určit vliv skladování při zvýšené teplotě na všechny elektronické součástky bez použití elektrického namáhání. Tato zkouška se obvykle používá k určení vlivu času a teploty v podmínkách skladování, na tepelně aktivované metody poruch a určení času do poruchy elektronických součástek, včetně energeticky nezávislých paměťových zařízení (mechanismy selhání dat). Tato zkouška je považována za nedestruktivní, ale měla by být raději používána pro kvalifikaci součástek. Jestliže jsou takové součástky používány pro dodávku, bude třeba účinky této zkoušky velmi zrychleným namáháním vyhodnotit. Tepelně aktivované metody poruch jsou modelovány pomocí Arrheniusovi rovnice. Návod pro výběr zkušebních teplot a dob trvání lze nalézt v IEC 60749-43.
Original English text of CSN EN Standard.
The price of the Standard included all amendments and correcturs.