Log inSign up
LANGUAGE en
Menu
STOREABOUT US Help centerContactsDelivery chargesNews
SEARCH
0
Total price
0 USD
PRICES include / exclude VAT
Homepage>CSN Standards>35 ELECTRICAL ENGINEERING>3587 Semiconductor elements>CSN EN 60749-8 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8: Sealing
Sponsored link
Released: 01.12.2003
CSN EN 60749-8 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8: Sealing

CSN EN 60749-8

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8: Sealing

Format
Availability
Price and currency
English Hardcopy
In stock
93.33 USD
FREE Shipping
Number of Standard:CSN EN 60749-8
Category:358799
Pages:44
Released:01.12.2003
Catalog number:68968
DESCRIPTION

CSN EN 60749-8

CSN EN 60749-8 Tato část normy IEC 60749 je vhodná pro polovodičové součástky (diskrétní součástky a integrované obvody). Předmětem této zkušební metody je určit rychlost úniku pro polovodičové součástky. Tato zkouška je identická se zkouškou obsaženou v článku 5, kapitoly 3, IEC 60749 (1996), změně 2, nehledě na doplněk tohoto článku a článku 2 a následující přečíslování.
Original English text of CSN EN Standard.
The price of the Standard included all amendments and correcturs.
Print