ISO 14001:2026 - Environmental management systems — Requirements with guidance for use - Order now!

Log inSign up
LANGUAGE en
Menu
STOREMembershipHelp centerContactsDelivery chargesABOUT US News
SEARCH
0
Total price
0 USD
PRICES include / exclude VAT
>CSN Standards>35 ELECTRICAL ENGINEERING>3587 Semiconductor elements>CSN EN 61967-6 - Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 6: Measurement of conducted emissions - Magnetic probe method
Released: 01.05.2003
CSN EN 61967-6 - Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 6: Measurement of conducted emissions - Magnetic probe method

CSN EN 61967-6

Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 6: Measurement of conducted emissions - Magnetic probe method

Format
Availability
Price and currency
English Hardcopy
In stock
49.41 USD
FREE Shipping
Number of Standard:CSN EN 61967-6
Category:358798
Pages:4
Released:01.05.2003
Catalog number:67092
DESCRIPTION

CSN EN 61967-6

CSN EN 61967-6 Tato část IEC 61967 specifikuje metodu vyhodnocení vysokofrekvenčních proudů na vývodech (pinech) integrovaných obvodů prostřednictvím bezdotykového měření proudu pomocí miniaturní magnetické sondy. Tato metoda je způsobilá k měření vysokofrekvenčních proudů generovaných integrovaným obvodem v kmitočtovém rozsahu 0,15 MHz až 1 000 MHz. Tato metoda je vhodná k měření jednotlivých integrovaných obvodů, nebo sady čipů integrovaných obvodů na normalizované zkušební desce pro účely popisu a porovnání. Lze ji také použít k ohodnocení elektromagnetických parametrů integrovaného obvodu nebo skupiny integrovaných obvodů pro účely snížení emise při aktuálním použití na desce plošných spojů. Tato metoda se jmenuje "metoda s magnetickou sondou".
Original English text of CSN EN Standard.
The price of the Standard included all amendments and correcturs.
Print