Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 11: Test method for coefficients of linear thermal expansion of free-standing materials for micro-electromechanical systems
Format
Availability
Price and currency
English Hardcopy
In stock
69.00 EUR
FREE Shipping
Number of Standard:
CSN EN 62047-11
Category:
358775
Pages:
32
Released:
01.04.2014
Catalog number:
95058
DESCRIPTION
CSN EN 62047-11
CSN EN 62047-11 Tato norma popisuje zkušební metodu na měření lineárního koeficientu teplotní roztažnosti (CLTE) volně umístěných pevných (kovových, keramických, polymerních aj.) materiálů pro mikroelektromechanické systémy (MEMS) délek mezi 0,1 mm až 1 mm a šířek mezi 10 µm až 1 mm s tloušťkami od 0,1 µm do 1 mm. Jedná se o hlavní konstrukční materiály, které se používají pro MEMS, mikrostroje a další. Tato zkušební metoda se dá použít pro měření CLTE v teplotním rozsahu od pokojové teploty do 30 % teploty tavení materiálu. Original English text of CSN EN Standard. The price of the Standard included all amendments and correcturs.