PRICES include / exclude VAT
Homepage>CSN Standards>35 ELECTRICAL ENGINEERING>3587 Semiconductor elements>CSN EN 62047-14 - Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 14: Forming limit measuring method of metallic film materials
Sponsored link
Released: 01.10.2012
CSN EN 62047-14 - Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 14: Forming limit measuring method of metallic film materials

CSN EN 62047-14

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 14: Forming limit measuring method of metallic film materials

Format
Availability
Price and currency
English Hardcopy
In stock
67.78 USD
FREE Shipping
Number of Standard:CSN EN 62047-14
Category:358775
Pages:28
Released:01.10.2012
Catalog number:91588
DESCRIPTION

CSN EN 62047-14

CSN EN 62047-14 Tato norma popisuje definice a postupy pro měření mezní tvářitelnosti kovových materiálů tvořících vrstvu pro tloušťky v rozmezí od 0,5 µm do 300 µm. Kovové vrstvy, které jsou v normě zmiňovány se používají v elektrických částech, MEMS a mikrosoučástkách. Norma uvádí metody předpovídání vad v materiálu při vtiskávacím procesu.
Original English text of CSN EN Standard.
The price of the Standard included all amendments and correcturs.