PRICES include / exclude VAT
Homepage>CSN Standards>35 ELECTRICAL ENGINEERING>3587 Semiconductor elements>CSN EN 62047-3 - Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 3: Thin film standard test piece for tensile testing
Sponsored link
Released: 01.05.2007
CSN EN 62047-3 - Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 3: Thin film standard test piece for tensile testing

CSN EN 62047-3

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 3: Thin film standard test piece for tensile testing

Format
Availability
Price and currency
English Hardcopy
In stock
67.78 USD
FREE Shipping
Number of Standard:CSN EN 62047-3
Category:358775
Pages:24
Released:01.05.2007
Catalog number:78595
DESCRIPTION

CSN EN 62047-3

CSN EN 62047-3 Tato mezinárodní norma specifikuje normalizovaný zkušební kus, který se používá pro zajišťování vhodnosti a přesnosti systému zkoušení v tahu pro tenkovrstvové materiály o délce a šířce pod 1 mm a tloušťce pod 10 µm, které jsou hlavním materiálem struktury mikroelektromechanických systémů (MEMS) mikrostrojů a podobných součástek. Tato mezinárodní norma vychází z koncepce, aby systém zkoušek v tahu mohl zaručovat vhodnost a přesnost při měření pevnosti v tahu normalizovaných zkušebních kusů, jejichž pevnost v tahu je stanovena předem, v předpokládaném rozsahu. Norma rovněž stanoví zkušební kusy pro minimalizaci odchylek charakteristik mezi zkoušenými kusy. Přejímaná EN 62047-3 představuje 3 strany anglického textu a 15 stran anglického a francouzského textu normy IEC.
Original English text of CSN EN Standard.
The price of the Standard included all amendments and correcturs.