Log inSign up
LANGUAGE en
Menu
STOREE-ReadingHelp centerContactsDelivery chargesABOUT US News
SEARCH
0
Total price
0 USD
PRICES include / exclude VAT
Homepage>CSN Standards>35 ELECTRICAL ENGINEERING>3587 Semiconductor elements>CSN EN 62373 - Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET)
Sponsored link
Released: 01.03.2007
CSN EN 62373 - Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET)

CSN EN 62373

Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET)

Format
Availability
Price and currency
English Hardcopy
In stock
76.67 USD
FREE Shipping
Number of Standard:CSN EN 62373
Category:358767
Pages:32
Released:01.03.2007
Catalog number:78056
DESCRIPTION

CSN EN 62373

CSN EN 62373 Tato norma uvádí zkušební postupy pro zkoušení stability tranzistorů řízených polem (MOSFET) při kombinovaném namáhání napětím a teplotou. Při dlouhodobém namáhání zvýšenou teplotou a napětím G-S dochází k degradaci MOSFET, klesá saturační proud a vzrůstá absolutní hodnota prahového napětí. Zaváděná IEC 62373 představuje celkem 27 stran anglického a francouzského textu.
Original English text of CSN EN Standard.
The price of the Standard included all amendments and correcturs.
Print