PRICES include / exclude VAT
Homepage>CSN Standards>35 ELECTRICAL ENGINEERING>3587 Semiconductor elements>CSN EN IEC 60749-13 ed. 2 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13: Salt atmosphere
Sponsored link
Released: 01.10.2018
CSN EN IEC 60749-13 ed. 2 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13: Salt atmosphere

CSN EN IEC 60749-13 ed. 2

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13: Salt atmosphere

Format
Availability
Price and currency
English Hardcopy
In stock
67.78 USD
FREE Shipping
Number of Standard:CSN EN IEC 60749-13 ed. 2
Category:358799
Pages:24
Released:01.10.2018
Catalog number:505852
DESCRIPTION

CSN EN IEC 60749-13 ed. 2

CSN EN IEC 60749-13 ed. 2 Tato norma popisuje zkoušku solným ovzduším, která zjišťuje odolnost polovodičových součástek vůči korozi. Je to zrychlená zkouška, která simuluje účinek drsného ovzduší mořského pobřeží na všech nechráněných plochách. Je vhodná pouze pro součástky určené k použití v mořském prostředí. Zkouška solným ovzduším je považována za destruktivní.
Original English text of CSN EN Standard.
The price of the Standard included all amendments and correcturs.