PRICES include / exclude VAT
Homepage>CSN Standards>35 ELECTRICAL ENGINEERING>3587 Semiconductor elements>CSN EN IEC 60749-17 ed. 2 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation
Sponsored link
Released: 01.11.2019
CSN EN IEC 60749-17 ed. 2 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation

CSN EN IEC 60749-17 ed. 2

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation

Format
Availability
Price and currency
English Hardcopy
In stock
57.78 USD
FREE Shipping
Number of Standard:CSN EN IEC 60749-17 ed. 2
Category:358799
Pages:16
Released:01.11.2019
Catalog number:508691
DESCRIPTION

CSN EN IEC 60749-17 ed. 2

CSN EN IEC 60749-17 ed. 2 Zkouška neutronovým zářením se provádí, aby se určila citlivost polovodičových součástek na degradaci vlivem neionizující ztráty energie (NIEL). Zkouška, která je zde popisována, je vhodná pro integrované obvody a diskrétní polovodičové součástky. Je určena pro vojenské a kosmické účely. Je to destruktivní zkouška. Cíle zkoušky jsou tyto: a) zjistit a změřit degradaci kritických parametrů polovodičové součástky, jako funkci působení proudu neutronů, a b) určit, jestli stanovené parametry polovodičové součástky jsou ve stanovených mezích po vystavení účinku proudu neutronů stanovené úrovně (viz kapitola 6).
Original English text of CSN EN Standard.
The price of the Standard included all amendments and correcturs.