PRICES include / exclude VAT
Main page>CSN Standards>35 ELECTRICAL ENGINEERING>3587 Semiconductor elements>CSN EN IEC 60749-21 ed. 3 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 21: Solderability
Released: 01.08.2026
CSN EN IEC 60749-21 ed. 3 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 21: Solderability

CSN EN IEC 60749-21 ed. 3

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 21: Solderability

Format
Availability
Price and currency
English Hardcopy
In stock
111.76 USD
FREE Shipping
Number of Standard:CSN EN IEC 60749-21 ed. 3
Category:358799
Pages:32
Released:01.08.2026
Catalog number:524318
DESCRIPTION

CSN EN IEC 60749-21 ed. 3

CSN EN IEC 60749-21 ed. 3 Tato norma definuje standardní postup pro stanovení pájitelnosti vývodů pouzder součástek, které mají být připojeny na jiný povrch olovnatou (SnPb), nebo bezolovnatou (Pb-free) pájkou. Tato zkušební metoda stanovuje postup pro stanovení pájitelnosti metodou "ponoř a prohlédni", která je použitelná pro součástky montované do průchozích otvorů, pro součástky s axiálními vývody a pro povrchově montované součástky (SMD), stejně jako volitelný postup pro zkoušku zjišťování pájitelnosti desky pro SMD za účelem umožnění simulace pájecího procesu, který je použit při montáži součástky. Tato zkušební metoda také stanovuje volitelné podmínky v případě stárnutí. Tato zkouška je považována za destruktivní, není-li v příslušné specifikaci uvedeno jinak. Poznámka 1 - Tato zkušební metoda nevyhodnocuje efekt teplotních namáhání, která se mohou objevit během pájecího procesu. Více podrobných informací lze nalézt v IEC 60749-15 nebo IEC 60749-20. Poznámka 2 - Upřednostňuje-li se kvalitativní zkušební metoda, lze zkušební metodu smáčecích vah nalézt v normě IEC 60068 2 69.
Original English text of CSN EN Standard.
The price of the Standard included all amendments and correcturs.