PRICES include / exclude VAT
Main page>CSN Standards>35 ELECTRICAL ENGINEERING>3587 Semiconductor elements>CSN EN IEC 60749-23 ed. 2 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life
Released: 01.08.2026
CSN EN IEC 60749-23 ed. 2 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life

CSN EN IEC 60749-23 ed. 2

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life

Format
Availability
Price and currency
English Hardcopy
In stock
82.35 USD
FREE Shipping
Number of Standard:CSN EN IEC 60749-23 ed. 2
Category:358799
Pages:20
Released:01.08.2026
Catalog number:524316
DESCRIPTION

CSN EN IEC 60749-23 ed. 2

CSN EN IEC 60749-23 ed. 2 Tato norma stanoví zkoušku, která se používá k určení vlivů podmínek předpětí a teploty na polovodičové součástky v čase. Zkouška simuluje pracovní podmínky součástky zrychleným způsobem a přednostně se používá pro kvalifikaci součástek a monitorování spolehlivosti. Forma předpětí při vyšší teplotě, které má krátké trvání, je obecně známá jako "zahořování" a může být použita k vytřídění poruch, které se vztahují k předčasné nefunkčnosti. Podrobné využití a aplikace zahořování je mimo předmět této normy.
Original English text of CSN EN Standard.
The price of the Standard included all amendments and correcturs.