PRICES include / exclude VAT
>CSN Standards>35 ELECTRICAL ENGINEERING>3587 Semiconductor elements>CSN EN IEC 60749-24 ed. 2 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance - Unbiased HAST
Released: 01.06.2026
CSN EN IEC 60749-24 ed. 2 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance - Unbiased HAST

CSN EN IEC 60749-24 ed. 2

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance - Unbiased HAST

Format
Availability
Price and currency
English Hardcopy
In stock
82.35 USD
FREE Shipping
Number of Standard:CSN EN IEC 60749-24 ed. 2
Category:358799
Pages:20
Released:01.06.2026
Catalog number:524046
DESCRIPTION

CSN EN IEC 60749-24 ed. 2

CSN EN IEC 60749-24 ed. 2 Tato norma specifikuje velmi zrychlenou zkoušku namáháním bez předpětí (HAST). HAST se provádí pro účely vypočítání spolehlivosti nehermeticky zapouzdřených pevných součástek ve vlhkém prostředí. Je to velmi zrychlená zkouška, která využívá teploty a vlhkosti v nekondenzovaném stavu ke zrychlení proniknutí vlhkosti přes vnější ochranný materiál (pouzdřící nebo těsnící), nebo podél rozhraní mezi vnějším ochranným materiálem a kovovými vodiči, které jím procházejí. Předpětí se při této zkoušce nepoužívá, aby se zajistilo, že mohou být objeveny mechanismy poruch, které jsou zátěží zastíněny (např. galvanická koroze). Tato zkouška se používá k identifikaci mechanismu poruch uvnitř pouzdra a je destruktivní.
Original English text of CSN EN Standard.
The price of the Standard included all amendments and correcturs.