Log inSign up
LANGUAGE en
Menu
STOREE-ReadingHelp centerContactsDelivery chargesABOUT US News
SEARCH
0
Total price
0 USD
PRICES include / exclude VAT
Homepage>CSN Standards>35 ELECTRICAL ENGINEERING>3587 Semiconductor elements>CSN EN IEC 60749-41 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices
Sponsored link
Released: 01.04.2021
CSN EN IEC 60749-41 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices

CSN EN IEC 60749-41

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices

Format
Availability
Price and currency
English Hardcopy
In stock
76.67 USD
FREE Shipping
Number of Standard:CSN EN IEC 60749-41
Category:358799
Pages:36
Released:01.04.2021
Catalog number:512197
DESCRIPTION

CSN EN IEC 60749-41

CSN EN IEC 60749-41 Tato norma stanovuje procedurální požadavky na provádění platných zkoušek výdrže, uchování a zkoušek na opačné teplotě založené na kvalifikační specifikaci. Kvalifikační specifikace výdrže a uchování (pro počet cyklů, trvání, teploty a velikosti vzorku) jsou specifikovány v JESD47, nebo jsou vyvíjeny pomocí metod vycházejících ze znalostí JESD94.
Original English text of CSN EN Standard.
The price of the Standard included all amendments and correcturs.
Print