PRICES include / exclude VAT
Homepage>CSN Standards>35 ELECTRICAL ENGINEERING>3587 Semiconductor elements>CSN EN IEC 63287-1 - Semiconductor devices - Generic semiconductor qualification guidelines - Part 1: Guidelines for IC reliability qualification
Sponsored link
Released: 01.04.2022
CSN EN IEC 63287-1 - Semiconductor devices - Generic semiconductor qualification guidelines - Part 1: Guidelines for IC reliability qualification

CSN EN IEC 63287-1

Semiconductor devices - Generic semiconductor qualification guidelines - Part 1: Guidelines for IC reliability qualification

Format
Availability
Price and currency
English Hardcopy
In stock
102.22 USD
FREE Shipping
Number of Standard:CSN EN IEC 63287-1
Category:358777
Pages:56
Released:01.04.2022
Catalog number:514694
DESCRIPTION

CSN EN IEC 63287-1

CSN EN IEC 63287-1 Tato norma poskytuje směrnice pro kvalifikační plány spolehlivosti výrobků polovodičových integrovaných obvodů. Tento dokument není určen pro vojenské a kosmické aplikace. POZNÁMKA 1 - Výrobce může používat flexibilní rozsahy výběru vzorku, aby snížil náklady a udržel přiměřenou spolehlivost a to za pomoci adaptace této směrnice, která je založena na EDR-4708, AEC Q100, JESD47 nebo jiném relevantním dokumentu, pokud je specifikován. POZNÁMKA 2 - Weibullova distribuční metoda použitá v tomto dokumentu je jednou z několika metod pro výpočet vhodného rozsahu výběru vzorku a zkušebních podmínek pro daný projekt spolehlivosti.
Original English text of CSN EN Standard.
The price of the Standard included all amendments and correcturs.