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UNE EN 60749-5:2017
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test (Endorsed by Asociación Española de Normalización in August of 2017.)
Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 5: Ensayo continuo de duración de vida bajo temperatura y humedad con polarización. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en agosto de 2017.)
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| Standard number: | UNE EN 60749-5:2017 |
| Pages: | 19 |
| Released: | 2017-08-01 |
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This standard UNE EN 60749-5:2017 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test (Endorsed by Asociación Española de Normalización in August of 2017.) is classified in these ICS categories:
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