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UNE EN IEC 60749-17:2019
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation (Endorsed by Asociación Española de Normalización in June of 2019.)
Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 17: Irradiación de neutrones. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en junio de 2019.)
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| Standard number: | UNE EN IEC 60749-17:2019 |
| Pages: | 17 |
| Released: | 2019-06-01 |
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This standard UNE EN IEC 60749-17:2019 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation (Endorsed by Asociación Española de Normalización in June of 2019.) is classified in these ICS categories:
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