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in stockReleased: 2019-07-01
UNE EN IEC 60749-18:2019 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose) (Endorsed by Asociación Española de Normalización in July of 2019.)

UNE EN IEC 60749-18:2019

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose) (Endorsed by Asociación Española de Normalización in July of 2019.)

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 18: Radiación ionizante (dosis total) (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en julio de 2019.)

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English
Standard number:UNE EN IEC 60749-18:2019
Pages:29
Released:2019-07-01
DESCRIPTION
This standard UNE EN IEC 60749-18:2019 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose) (Endorsed by Asociación Española de Normalización in July of 2019.) is classified in these ICS categories:
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