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UNE EN IEC 60749-18:2019
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose) (Endorsed by Asociación Española de Normalización in July of 2019.)
Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 18: Radiación ionizante (dosis total) (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en julio de 2019.)
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| Standard number: | UNE EN IEC 60749-18:2019 |
| Pages: | 29 |
| Released: | 2019-07-01 |
DESCRIPTION
This standard UNE EN IEC 60749-18:2019 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose) (Endorsed by Asociación Española de Normalización in July of 2019.) is classified in these ICS categories:
- 31.080.01