PRICES include / exclude VAT
in stockReleased: 2022-05-01
UNE EN IEC 60749-28:2022
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level (Endorsed by Asociación Española de Normalización in May of 2022.)
Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 28: Ensayo de la sensibilidad a la descarga electrostática. Modelo de dispositivo cargado- Nivel de dispositivo. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en mayo de 2022.)
Format
Availability
Price and currency
English PDF
Immediate download
110.00 USD
English Hardcopy
In stock
110.00 USD
| Standard number: | UNE EN IEC 60749-28:2022 |
| Pages: | 57 |
| Released: | 2022-05-01 |
DESCRIPTION
This standard UNE EN IEC 60749-28:2022 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level (Endorsed by Asociación Española de Normalización in May of 2022.) is classified in these ICS categories:
- 31.080.01